射线探伤基本原理(含视频)

射线在穿过物质的过程中,会受到物质的散射和吸收作用,因物体材料、缺陷和穿透距离的不同,射线强度将产生不同程度的衰减,这样,当把强度均匀的射线照射到物体的一侧,使透过的射线在物体另一侧的胶片上感光,把胶片显影后,得到与材料内部结构和缺陷相对应的黑度不同的图像,即射线底片。通过对图像的观察分析,最终确定物体缺陷的种类、大小和分布情况。

射线探伤适用于体积形缺陷探测。如气孔、夹碴、缩孔、疏松等,对片形缺陷检测较难。

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